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                                seaward介電耐壓VS介電擊穿測試——Hal系列綜合電器安規測試儀

                                點擊次數:618 更新時間:2022-05-31

                                seaward介電耐壓VS介電擊穿測試——Hal系列綜合電器安規測試儀

                                SEAWARD綜合電器安規測試儀Hal系列

                                 

                                高壓測試(Hipot)測試是?個?常通?的測試,可?于許多應?,從研發和形式檢測,再到產品下線檢測,甚?在維修后都會應用。


                                在本?中,我們研究了兩種最常?的Hipot測試類型,介電耐壓測試和介電擊穿測試之間的區別。原則上,這兩種測試在應?于待測設備(DUT)時?乎相同,但測試結果往往不同。?壓測試通常涉及兩個測試端?,?個電壓源輸出和?個泄漏電流流?的返回端?,并由測試設備測量。


                                耐壓測試
                                耐壓測試是最常?的Hipot測試類型。它主要是對被測物施加規定的電壓,通常在1000V或更?的范圍。


                                測試(輸出)電壓按照規定保持一段時間,按照不同的測試目的,時間要求也有所區別,形式檢測可能需要幾分鐘,而常規的生產檢測可能低至幾秒鐘。


                                通常,測試的成功結果將根據返回終端檢測到的電流流量來確定。如果電流流量過多(泄漏電流),測試將作為失敗中?。

                                SEAWARD綜合電器安規測試儀Hal系列


                                電流流量的??通常以毫安為單位測量,并設置電流閾值,以確定測試是否已通過。同樣,取決于應?程序,此值可能會有所不同。對于類型測試場景,在100mA區域內的限制是相當常?的,在這些場景中,測試是在更受控的實驗室類型環境中進?的。在?產線上進?測試時,這些限制通常要低得多,以確保測試操作員的安全,通常5mA以內是可以接受的。這種類型的測試通常不是破壞性的,除?設備中已經存在故障,因此它是?產環節中是非常常?的測試。但是作為測試時間更長的形式測試,可能會削弱絕緣材料的完整性。因此,形式測試的產品通常被認為不適合銷售。


                                介電擊穿測試
                                介質故障測試以與上述相同的?式進?,區別在于,它沒有規定最?電壓,通常也沒有規定測試時間。
                                而是電壓逐漸增加,直到被測試產品的絕緣體?法再承受電壓并發生擊穿擊穿。這種電壓是絕緣體變得導電的點。

                                 

                                SEAWARD綜合電器安規測試儀Hal系列


                                在這種情況下,關鍵參數是擊穿點的電壓。


                                如上所述,該測試的性質可以被視為具有破壞性,?的是迫使DUT達到擊穿點。因此,這種類型的測試僅在研發環境中進?,不適?于常規測試,因為它會使設備處于不安全狀態。


                                結論
                                可以看出,這兩種測試?法在確定產品的整體安全性??都有一席之地,它們的區別主要是在于測試的目的。明白這一點后,我們就能知道,為什么介電擊穿測試僅用于研發階段,而介電耐壓測試廣泛的應用于生產階段。


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